環(huán)境實驗室（環(huán)境試驗室）

【環(huán)境試驗】：環(huán)境實驗室（環(huán)境試驗室）
一、能實施的環(huán)境試驗項目
    1.氣候環(huán)境試驗（GB2423，GJB150，GB4208，RTCA/Do 160E,Mil-Std-810F）
    1.1 溫度試驗：高溫試驗、低溫試驗、溫度變化、溫度沖擊（熱沖擊、溫度驟變）、溫度循環(huán)（溫度漸變）試驗等；
    1.2 濕度試驗：防潮試驗（濕度試驗、恒定濕熱、交變濕熱）；
    1.3 腐蝕試驗：鹽霧試驗：中性鹽霧試驗NSS/銅鹽加速乙酸鹽霧試驗CASS/銅鹽加速醋酸鹽霧試驗CASS試驗/銅加速醋酸鹽霧試驗CASS/酸性鹽霧試驗 /醋酸鹽霧試驗ASS、霉菌試驗（防霉試驗、長霉試驗）、大氣腐蝕試驗(氣體腐蝕試驗)：二氧化硫氣體腐蝕試驗(SO2)、硫化氫氣體腐蝕試驗(H2S)、絲狀腐蝕試驗/循環(huán)腐蝕試驗；
    1.4 其它：防塵防水(IP防護等級、IP等級、IP代碼、外殼防護等級)、沙塵試驗（揚塵試驗、防塵試驗）、浸水試驗(防水試驗、浸漬試驗)、淋雨試驗、砂塵試驗、凍雨試驗、老化試驗、低氣壓試驗（低壓試驗、高度試驗、高空試驗、快速減壓試驗、快速氣壓變化）、爆炸性減壓（快速減壓、迅速減壓）、高氣壓試驗（過壓試驗、正壓試驗）、太陽輻照（太陽輻射、陽光輻射、日照試驗、日照輻射、人工加速光老化試驗、氙燈光老化試驗）、風洞試驗(風壓試驗、風載荷試驗、吹風試驗)、熱真空試驗、爆炸性大氣、噪聲試驗等。
    2. 機械環(huán)境試驗(動力學環(huán)境試驗)（GB2423，GJB150，RTCA/Do 160E,Mil-Std-810F）
    2.1 振動試驗：正弦振動、隨機振動、復合振動、掃描振動、定頻振動、飛機炮振試驗(炮擊振動試驗)；
    2.2 其它：沖擊試驗（高g值沖擊如30000g、艦船沖擊試驗）、地震試驗（地震模擬試驗）、碰撞試驗、跌落試驗、包裝運輸、拉伸試驗、傾斜搖擺、離心試驗（也叫過載試驗、恒定加速度試驗、恒加速度試驗、加速度試驗）、顛振試驗等。
    3. 綜合環(huán)境試驗（GB2423，GJB150,Mil-Std-810F）
    3.1 溫度高度試驗、溫度濕度高度試驗、濕度高度試驗、低溫低氣壓試驗；
    3.2 溫度濕度試驗、溫度濕度振動試驗、溫度振動試驗；
    3.3 振動噪聲試驗（聲振聯(lián)合試驗、振聲試驗）

【可靠性試驗】：可靠性實驗室（可靠性試驗室）
    老練試驗(老煉試驗)、環(huán)境應力篩選試驗、可靠性增長試驗、可靠性驗收試驗
    可靠性鑒定試驗(特定環(huán)境下的產(chǎn)品平均無故障時間MTBF）、壽命試驗、耐久性試驗
    可靠性強化試驗、高加速壽命試驗HALT、高加速環(huán)境應力篩選試驗HASS
    綜合應力試驗：兩綜合試驗(振動－溫度、溫度－濕度、振動-濕度)、三綜合試驗(振動－溫度－濕度)、四綜合試驗(低氣壓－振動－溫度－濕度、噪聲－振動－溫度－濕度)
   可靠性試驗策劃、大綱制定、試驗方案設計
    系統(tǒng)可靠性分析與試驗結果綜合評估
    產(chǎn)品可靠性故障分析與診斷
    產(chǎn)品貯存可靠性分析

【包裝運輸試驗】
    包裝試驗（GB/T4857，GB6543，GB6544，QB/T1649）：碰撞、跌落、傾斜、翻倒等。

【產(chǎn)品認證】
    各種產(chǎn)品認證：3C，CE，F(xiàn)CC，RoSH等。

二、各試驗項目的標準及ZUI大試驗能力
1 低氣壓試驗（低氣壓實驗）（ZUI大體積：150立方，12*3.5*3.5m）
GB/T2423.21-91 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗M：低氣壓試驗方法
GJB150.2-86 軍用設備環(huán)境試驗方法 低氣壓（高度）試驗
MIL-STD-810F《環(huán)境工程考慮與實驗室試驗》
GJB367.2-87《軍用通信設備通用技術條件》
GJB367A-2001《軍用通信設備通用規(guī)范》
GJB360A-96 電子及電氣元件試驗方法 方法105 低氣壓試驗
MIL-STD-202F《電子及電氣元件試驗方法》
GB/T13543-92《數(shù)字通信設備環(huán)境試驗方法》
RTCA/DO-160E 機載設備環(huán)境條件和試驗方法

2 低溫試驗（ZUI大體積：150立方，12*3.5*3.5m）
GJB150.4-86《軍用設備環(huán)境試驗方法 低溫試驗》
MIL-STD-810F《環(huán)境工程考慮與實驗室試驗》
GJB367.2-87《軍用通信設備通用技術條件》
GJB4.3-83《艦船電子設備環(huán)境試驗 低溫試驗》
GJB4.4-83《艦船電子設備環(huán)境試驗 低溫貯存試驗》
GJB367A-2001《軍用通信設備通用規(guī)范》4.7.27 低溫試驗
GB/T2423.1-2001《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗A：低溫》
SJ/T 10325-92《汽車收放機環(huán)境試驗要求和試驗方法》4.4 低溫負荷試驗
SJ/T 10325-92《汽車收放機環(huán)境試驗要求和試驗方法》4.5 低溫貯存試驗
GB/T13543-92《數(shù)字通信設備環(huán)境試驗方法》
RTCA/DO-160E 機載設備環(huán)境條件和試驗方法

3 高溫試驗（ZUI大體積：150立方，12*3.5*3.5m）
GJB128A-97 《半導體分立器件試驗方法》
GJB150.3-86《軍用設備環(huán)境試驗方法 高溫試驗》
MIL-STD-810F《環(huán)境工程考慮與實驗室試驗》
GJB4.2-83《艦船電子設備環(huán)境試驗 高溫試驗》
GJB360A-96 電子及電氣元件試驗方法 方法108高溫壽命試驗
MIL-STD-202F《電子及電氣元件試驗方法》
GJB367A-2001《軍用通信設備通用規(guī)范》4.7.28 高溫試驗
GJB548A-96 《微電子器件試驗方法和程序》
MIL-STD-883D 《微電子器件試驗方法和程序》
GB/T2423.2-2001《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗B：高溫》
SJ/T 10325-92《汽車收放機環(huán)境試驗要求和試驗方法》4.1 高溫負荷試驗
SJ/T 10325-92《汽車收放機環(huán)境試驗要求和試驗方法》4.2 高溫貯存試驗
GB/T13543-92《數(shù)字通信設備環(huán)境試驗方法》
RTCA/DO-160E 機載設備環(huán)境條件和試驗方法

4 濕熱試驗（ZUI大體積：150立方，12*3.5*3.5m）
GJB128A-97 《半導體分立器件試驗方法》
GJB150.9-86《軍用設備環(huán)境試驗方法 濕熱試驗》
MIL-STD-810F《環(huán)境工程考慮與實驗室試驗》
GJB367.2-87《軍用通信設備通用技術條件》
GJB4.5-83《艦船電子設備環(huán)境試驗 恒定濕熱試驗》
GJB4.6-83《艦船電子設備環(huán)境試驗 交變濕熱試驗》
GJB360A-96 電子及電氣元件試驗方法 方法103穩(wěn)態(tài)濕熱試驗
MIL-STD-202F《電子及電氣元件試驗方法》
GJB360A-96 電子及電氣元件試驗方法 方法106耐濕試驗
GJB367A－2001《軍用通信設備通用規(guī)范》4.7.29 濕熱
GJB548A-96 《微電子器件試驗方法和程序》
MIL-STD-883D 《微電子器件試驗方法和程序》
GB/T2423.3-2006《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Cab：恒定濕熱試驗》
GB/T2423.4-93《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Db：交變濕熱試驗方法》
GB/T2423.9-2001電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 試驗Cb：設備用恒定濕熱
GB/T2423.34-2005《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Z/AD：溫度/濕度組合循環(huán)試驗》
SJ/T 10325-92《汽車收放機環(huán)境試驗要求和試驗方法》4.3 恒定濕熱試驗
GB/T13543-92《數(shù)字通信設備環(huán)境試驗方法》
RTCA/DO-160E 機載設備環(huán)境條件和試驗方法

5 沖擊試驗（ZUI大加速度：30000g）
GJB128A-97 《半導體分立器件試驗方法》
GJB150.18-86《軍用設備環(huán)境試驗方法 沖擊試驗》
MIL-STD-810F《環(huán)境工程考慮與實驗室試驗》
GJB367.2-87《軍用通信設備通用技術條件》
GJB4.8-83《艦船電子設備環(huán)境試驗 顛震試驗》
GJB360A-96 電子及電氣元件試驗方法 方法213沖擊（規(guī)定脈沖）試驗
MIL-STD-202F《電子及電氣元件試驗方法》
GJB367A-2001《軍用通信設備通用規(guī)范》4.7.39 沖擊和4.7.42 顛震
GJB548A-96 《微電子器件試驗方法和程序》
MIL-STD-883D 《微電子器件試驗方法和程序》
GB/T2423.5-1995《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Ea和導則：沖擊》
GB/T2423.6-1995《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Eb和導則：碰撞》
SJ/T 10325-92 《汽車收放機環(huán)境試驗要求和試驗方法》5.2 碰撞試驗
GB/T13543-92《數(shù)字通信設備環(huán)境試驗方法》
RTCA/DO-160E 機載設備環(huán)境條件和試驗方法

6 碰撞試驗
GB/T 2423.6-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分： 試驗方法 試驗Eb和導則： 碰撞
GJB4.8-83 艦船電子設備環(huán)境試驗 顛振試驗
RTCA/DO-160E 機載設備環(huán)境條件和試驗方法

7 運輸試驗
QJ/T 815.2-1994 航天工業(yè)行業(yè)標準 產(chǎn)品公路運輸加速模擬試驗方法

8 恒定加速度試驗 （離心試驗）
GJB128A-97 《半導體分立器件試驗方法》
GB/T 2423.15-1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Ga和導則:穩(wěn)態(tài)加速度
GJB 150.15-1986 軍用設備環(huán)境試驗方法 加速度試驗
MIL-STD-810F《環(huán)境工程考慮與實驗室試驗》
GJB367.2-87《軍用通信設備通用技術條件》
GJB360A-96 電子及電氣元件試驗方法 方法212 穩(wěn)態(tài)加速度試驗
MIL-STD-202F《電子及電氣元件試驗方法》
GJB548A-96 《微電子器件試驗方法和程序》
MIL-STD-883D 《微電子器件試驗方法和程序》
RTCA/DO-160E 機載設備環(huán)境條件和試驗方法

9 跌落試驗
SJ/T 10325-92《汽車收放機環(huán)境試驗要求和試驗方法》5.3 自由跌落試驗
GB/T2423.8-1995《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Ed：自由跌落》方法一：自由跌落

10 振動試驗（ZUI大推力：30t；ZUI大承載：20t）
GJB128A-97 《半導體分立器件試驗方法》
GJB150.16-86《軍用設備環(huán)境試驗方法 振動試驗》
MIL-STD-810F《環(huán)境工程考慮與實驗室試驗》
GJB367.2-87《軍用通信設備通用技術條件》
GJB360A-96 電子及電氣元件試驗方法 方法214隨機振動試驗
MIL-STD-202F《電子及電氣元件試驗方法》
GJB367A-2001《軍用通信設備通用規(guī)范》4.7.38 振動
GJB4.7-83《艦船電子設備環(huán)境試驗 振動試驗》
GJB548A-96 《微電子器件試驗方法和程序》
MIL-STD-883D 《微電子器件試驗方法和程序》
GB/T2423.10-1995《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Fc和導則：振動（正弦）》
GB/T2423.11-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法：試驗Fd：寬頻帶隨機振動—-一般要求
GB/T2423.12-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Fda：寬頻帶隨機振動-- 高再現(xiàn)性
GB/T2423.13-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Fdb：寬頻帶隨機振動-- 中再現(xiàn)性
GB/T2423.14-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Fdc：寬頻帶隨機振動-- 低再現(xiàn)性
SJ/T 10325-92《汽車收放機環(huán)境試驗要求和試驗方法》5.1 掃頻振動（正弦）試驗
GB/T13543-92《數(shù)字通信設備環(huán)境試驗方法》
RTCA/DO-160E 機載設備環(huán)境條件和試驗方法

11 溫度沖擊
GJB150.5-86《軍用設備環(huán)境試驗方法溫度沖擊試驗》
MIL-STD-810F《環(huán)境工程考慮與實驗室試驗》
GJB367.2-87《軍用通信設備通用技術條件》
GJB548A-96 《微電子器件試驗方法和程序》
MIL-STD-883D 《微電子器件試驗方法和程序》
GJB360A-96 電子及電氣元件試驗方法
MIL-STD-202F《電子及電氣元件試驗方法》
GB/T2423.22-2002《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗N：溫度變化》
RTCA/DO-160E 機載設備環(huán)境條件和試驗方法

12 溫度變化
SJ/T 10325-92《汽車收放機環(huán)境試驗要求和試驗方法》4.6 溫度變化試驗
GB/T2423.22-2002 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗N：溫度變化 GJB150.5-86 軍用設備環(huán)境試驗方法 溫度沖擊試驗
GJB360A-96 電子及電氣元件試驗方法方法107 溫度沖擊試驗
GJB1032-90 電子產(chǎn)品環(huán)境應力篩選方法
RTCA/DO-160E 機載設備環(huán)境條件和試驗方法

13 鹽霧試驗（ZUI大2立方）
GJB128A-97 《半導體分立器件試驗方法》
GJB150.11-86《軍用設備環(huán)境試驗方法 鹽霧試驗》
MIL-STD-810F《環(huán)境工程考慮與實驗室試驗》
GJB367.2-87《軍用通信設備通用技術條件》
GJB4.11-83《艦船電子設備環(huán)境試驗 鹽霧試驗》
GJB548A-96 《微電子器件試驗方法和程序》
MIL-STD-883D 《微電子器件試驗方法和程序》
GB/T2423.17-93《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Ka：鹽霧試驗方法》
GB/T2423.18-2000《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗 試驗Kb：鹽霧，交變（氯化鈉溶液）
GJB360A-96 電子及電氣元件試驗方法 方法101 鹽霧試驗
MIL-STD-202F《電子及電氣元件試驗方法》
GB/T13543-92《數(shù)字通信設備環(huán)境試驗方法》
RTCA/DO-160E 機載設備環(huán)境條件和試驗方法

14 霉菌試驗（長霉試驗）
GB/T2423.16-1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分 試驗方法 試驗J和導則：長霉
GJB4.10-83艦船電子設備環(huán)境試驗 霉菌試驗
GJB150.10-86軍用設備環(huán)境試驗方法 霉菌試驗
MIL-STD-810F《環(huán)境工程考慮與實驗室試驗》
GJB367.2-87《軍用通信設備通用技術條件》
GB/T13543-92《數(shù)字通信設備環(huán)境試驗方法》
RTCA/DO-160E 機載設備環(huán)境條件和試驗方法

15 溫度/振動綜合試驗
GB/T 2423.35-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Z/AFc:散熱和非散熱試驗樣品的低溫/振動(正弦)綜合試驗方法
GB/T 2423.36-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Z/BFc:散熱和非散熱樣品的高溫/振動(正弦)綜合試驗方法

16 溫度/低氣壓（高度）綜合試驗（ZUI大體積：150立方，12*3.5*3.5m）
GB/T2423.25-1992 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗 試驗Z/AM：低溫/低氣壓綜合試驗
GB/T2423.26-1992 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗 試驗Z/BM：高溫/低氣壓綜合試驗
GJB150.6-86軍用設備環(huán)境試驗方法 溫度－高度試驗

17 低溫/低氣壓（ZUI大體積：150立方，12*3.5*3.5m）
GB/T2423.25-1992 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗 試驗Z/AM：低溫/低氣壓綜合試驗

18 高溫高氣壓（ZUI大體積：150立方，12*3.5*3.5m）
GB/T2423.26-1992 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗 試驗Z/BM：高溫/低氣壓綜合試驗

19 溫度/濕度
GB/T 2423

20 可靠性試驗
GJB899-90《可靠性鑒定和驗收試驗》
MIL-STD-781D-86
裝電字[2002]110號《海軍電子裝備可靠性鑒定試驗實施方法》
GB/T 12165-1998《盒式磁帶錄音機可靠性要求和試驗方法》
GJB 1407-92 可靠性增長試驗
GB 5080.7-1986設備可靠性試驗恒定失效率假設下的失效率與平均無故障時間的驗證試驗方案

21 環(huán)境應力篩選
GJB899-90《可靠性鑒定和驗收試驗》
MIL-STD-2164-85
裝電字[2002]110號《海軍電子裝備可靠性鑒定試驗實施方法》
GB/T 12165-1998《盒式磁帶錄音機可靠性要求和試驗方法》

22 二氧化硫
GB/T 2423

23 硫化氫
GB/T 2423

24 高壓蒸煮
GB/T 2423

25 太陽輻射（ZUI大體積：）
GJB150-86《軍用設備環(huán)境試驗方法》
MIL-STD-810F《環(huán)境工程考慮與實驗室試驗》
GJB367.2-87《軍用通信設備通用技術條件》
GB/T 2423-1995電子電工產(chǎn)品環(huán)境試驗第二部分:試驗方法試驗Sa:模擬地面上的太陽輻射
GB/T16422.2-99《塑料實驗室光源暴露試驗方法 第二部分：氙弧燈》
GB/T14522-93 《機械工業(yè)產(chǎn)品用塑料、涂料、橡膠材料人工氣候加速試驗方法》
ISO 4892-1994 《塑料實驗室光源暴露試驗方法 第二部分:氙弧燈

26 防塵防水（外殼防護等級、IP等級、IP代碼、IP防護等級）
GB4208-93《外殼防護等級（IP標志）》
IEC 529-1989《外殼防護等級（IP標志）》

27 砂塵試驗（沙塵施壓）（ZUI大尺寸：）
GB/T 2423
MIL-STD-202F《電子及電氣元件試驗方法》
GB4208-93《外殼防護等級（IP標志）》
IEC 529-1989《外殼防護等級（IP標志）》
RTCA/DO-160E 機載設備環(huán)境條件和試驗方法

28 防水試驗、浸水試驗
GB/T 2423
GB/T13543-92《數(shù)字通信設備環(huán)境試驗方法》
GB4208-93《外殼防護等級（IP標志）》
IEC 529-1989《外殼防護等級（IP標志）》
RTCA/DO-160E 機載設備環(huán)境條件和試驗方法

29 淋雨試驗 （ZUI大尺寸：17700×6500×6520；高度：5～4.5m；寬度：7～3.5m；長度：7.8～16.2m）
GJB 150.8-86軍用設備環(huán)境試驗方法 淋雨試驗
GB/T2423.38-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗R:水試驗方法和導則
GB4208-93《外殼防護等級（IP標志）》
IEC 529-1989《外殼防護等級（IP標志）》
RTCA/DO-160E 機載設備環(huán)境條件和試驗方法

30 浸漬試驗
GJB150-86《軍用設備環(huán)境試驗方法》
MIL-STD-810F《環(huán)境工程考慮與實驗室試驗》
GJB367.2-87《軍用通信設備通用技術條件》

31 地震模擬試驗（地震試驗）（ZUI大噸位：60t；）
YD5096——2005 通信用電源設備抗地震性能檢測規(guī)范
美國IEEEStd344-1987、IEEEStd382 核設備抗震試驗
HAF J0053 核電設備抗震鑒定試驗指南
EJ T 706-1992 核用繼電器抗震試驗
GB T2424.25-2000 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 試驗導則 地震試驗方法

32 熱真空試驗

33 高氣壓試驗（過壓試驗）（ZUI大尺寸：φ８00×８00，ZUI大氣壓：0.6MPa）
RTCA/DO-160E 機載設備環(huán)境條件和試驗方法